ASTM E766-98
校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)

Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM E766-98

發(fā)布

1998年

發(fā)布單位

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E766-98(2003)

當(dāng)前最新

ASTM E766-14(2019)

 

 

適用范圍

1.1 本實(shí)踐旨在使用美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所 (NIST) 校準(zhǔn)樣本標(biāo)準(zhǔn)參考材料 (SRM)484 來校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡 (SEM) 的放大倍數(shù)。由于真實(shí)放大倍數(shù)和SEM讀數(shù)上指示的放大倍數(shù)之間的關(guān)系在不同放大倍數(shù)下可能不同，因此必須將這種做法應(yīng)用于需要真實(shí)放大倍數(shù)的每個(gè)放大倍數(shù)。
1.2 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。

ASTM E766-98 中可能用到的儀器設(shè)備

專題

ASTM E766-98相似標(biāo)準(zhǔn)

推薦

誰引用了ASTM E766-98 更多引用