高倍電子顯微鏡
本專題涉及高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)有91條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，高倍電子顯微鏡涉及到光學(xué)設(shè)備、光電子學(xué)、激光設(shè)備、建筑材料、光學(xué)和光學(xué)測量、分析化學(xué)、熱力學(xué)和溫度測量、詞匯、計量學(xué)和測量綜合、空氣質(zhì)量、焊接、釬焊和低溫焊、石蠟、瀝青材料和其他石油產(chǎn)品。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，高倍電子顯微鏡涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、放大鏡與顯微鏡、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、光電子器件綜合、、電磁計量、計量綜合、教育、學(xué)位、學(xué)銜、技術(shù)管理、光學(xué)計量。
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E766-98 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E766-98(2003) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)方法
- ASTM E766-14(2019) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
- ASTM STP 372-1965 電子顯微鏡技術(shù)
- ASTM E766-14e1 用于校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
上海市標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- DB31/T 315-2004 透射電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS B 7254:2007 顯微鏡.放大倍率
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 2400:2010 顯微鏡.光學(xué)顯微鏡浸液
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- BS 7012-1:1990 光學(xué)顯微鏡 顯微鏡成像元件放大倍數(shù)規(guī)范
- BS ISO 8039:2014 顯微鏡 放大倍數(shù)、公差和符號
- BS 7012-10.2:1997 光學(xué)顯微鏡.立體顯微鏡最低要求.高性能顯微鏡
- BS ISO 11884-2:2007 光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的最低要求.高性能顯微鏡
- BS ISO 25498:2025 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- 24/30479937 DC BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- 11/30228188 DC BS ISO 8039 顯微鏡 放大倍數(shù)、公差和符號
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BS ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
- BS ISO 10934:2020 顯微鏡 光學(xué)顯微鏡詞匯
- BS ISO 19012-2:2013 顯微鏡.顯微鏡物鏡名稱.色彩校正
- BS ISO 19012-4:2024 顯微鏡 顯微鏡物鏡標(biāo)識 偏振特性
- BS ISO 8036:2015 顯微鏡 光學(xué)顯微鏡用浸液
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BS ISO 10934:2025 顯微鏡 光學(xué)顯微鏡的詞匯
- BS ISO 19012-2:2010 顯微鏡 顯微鏡物鏡名稱 色彩校正
巴林國家計量局，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 8039:2016 顯微鏡 放大倍數(shù)、公差和符號
- BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 15932:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- KS B ISO 8039-2021 顯微鏡 放大倍數(shù)、公差和符號
- KS B ISO 11884-2-2011(2016) 光學(xué)和光子學(xué)立體顯微鏡最低要求第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2-2011(2021) 光學(xué)和光子學(xué)立體顯微鏡最低要求第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2:2011 光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的最低要求.第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2-2021 光學(xué)與光子學(xué) 體視顯微鏡的最低要求 第2部分：高性能顯微鏡
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-2024 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
阿曼規(guī)格和計量局，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO ISO 8039:2015 顯微鏡 放大倍數(shù)、公差和符號
- OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- OS GSO ISO 15932:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- OS GSO ISO 8036:2015 光學(xué)和光子學(xué) 顯微鏡 光學(xué)顯微鏡用浸沒液體
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機械，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 5480-1991 電子顯微鏡用光闌
- JB/T 5481-1991 電子顯微鏡用燈絲
- JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗方法
- JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術(shù)條件
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術(shù)條件
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- ISO 25498:2025 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- ISO 8036:2006 光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡.光學(xué)顯微鏡浸液
- ISO 11884-2:2007 光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的最低要求.第2部分:高性能顯微鏡
- ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯
- ISO 8036:2015 顯微鏡.光學(xué)顯微鏡浸液
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
- ISO 10934:2025 顯微鏡.光學(xué)顯微鏡詞匯
- ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 用透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
海灣阿拉伯國家合作委員會標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 8039:2015 顯微鏡 放大倍率的值、公差和符號
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- GSO ISO 15932:2015 微量分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 8036:2015 光學(xué)和光子學(xué) 顯微鏡 用于光學(xué)顯微鏡的浸沒液
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 19864.2-2005 體視顯微鏡 第2部分 高性能體視顯微鏡
- GB/T 19864.2-2013 體視顯微鏡 第2部分:高性能體視顯微鏡
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
- GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
- GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
- GB/T 22058-2008 顯微鏡.體視顯微鏡的標(biāo)志
中國團體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學(xué)測試裝置
- T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準(zhǔn)方法
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG(教委) 12-1992 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(地質(zhì)) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 13-1992 高溫顯微鏡檢定規(guī)程
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 8039:2001-12 光學(xué)與光學(xué)儀器 顯微鏡 放大倍數(shù)（ISO 8039:1997）
- DIN ISO 8039:2001 光學(xué)與光學(xué)儀器 顯微鏡 放大倍數(shù)（ISO 8039:1997）
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
國家計量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
德國機械工程師協(xié)會，關(guān)于高倍電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- DVS 2803-1974 顯微鏡下的電子束焊接（調(diào)查）
