相+掃描電鏡
本專題涉及相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)有152條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，相+掃描電鏡涉及到光學(xué)設(shè)備、長度和角度測量、光學(xué)和光學(xué)測量、建筑材料、詞匯、教育、分析化學(xué)、表面處理和鍍涂、有色金屬、空氣質(zhì)量、光電子學(xué)、激光設(shè)備、電子顯示器件、熱力學(xué)和溫度測量、犯罪行為防范、涂料和清漆、金屬材料試驗、紡織纖維、攝影技術(shù)、醫(yī)療設(shè)備。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，相+掃描電鏡涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、放大鏡與顯微鏡、電磁計量、、檢驗專用設(shè)備、教學(xué)專用儀器、化學(xué)計量、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、技術(shù)管理、材料防護(hù)、教育、學(xué)位、學(xué)銜、石油地質(zhì)勘探、石油勘探、開發(fā)與集輸工程綜合、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、記錄儀器及光線示波器、光學(xué)設(shè)備、金屬化學(xué)性能試驗方法、犯罪鑒定技術(shù)、油頁巖、金相檢驗方法、化學(xué)纖維綜合、光學(xué)計量、混凝土、集料、灰漿、砂漿、貴金屬及其合金分析方法、金屬物理性能試驗方法、稀有金屬及其合金分析方法、火工產(chǎn)品。
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準(zhǔn)圖像放大指南
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用電掃描探針顯微鏡對半導(dǎo)體器件中載流子濃度進(jìn)行實驗量化的指南
- ISO/DIS 16971-1:2011 眼科儀器 光學(xué)相干斷層掃描儀 第 1 部分：人眼后段光學(xué)相干斷層掃描儀
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E766-98(2003) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E766-98 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
- ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
- ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)方法
- ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)校正規(guī)范
- ASTM C1723-10 用掃描電子顯微鏡檢驗硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM C1723-16(2022) 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM C1723-16 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E766-14(2019) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法
- GB/T 17722-1999 金屬蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 27788-2011 微束分析.掃描電鏡.圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
- GB/T 18295-2001 油氣儲層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法
- GB/T 30834-2014 鋼中非金屬夾雜物的評定和統(tǒng)計 掃描電鏡法
- GB/T 36422-2018 化學(xué)纖維 微觀形貌及直徑的測定 掃描電鏡法
- GB/T 30834-2022 鋼中非金屬夾雜物的評定和統(tǒng)計 掃描電鏡法
- GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學(xué)顯微鏡法
- SN/T 3009-2011 金屬表面海水腐蝕掃描電鏡鑒定方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術(shù)條件
- JB/T 7503-1994 金屬覆蓋層橫截面厚度.掃描電鏡測量方法
國家計量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程
SCC，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評估膜表面污染模式
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- VDI/VDE 5565 BLATT 1:2023 光學(xué)相干斷層掃描 (OCT) 過程描述
- BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- DANSK DS/EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法 (ISO 9220:1988)
中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- T/SPSTS 032-2023 掃描電化學(xué)顯微鏡通用規(guī)范
- T/CSTM 00795-2022 材料實驗數(shù)據(jù) 掃描電鏡圖片要求
- T/COEMA 21O-2024 激光雷達(dá)用多面掃描轉(zhuǎn)鏡
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學(xué)測試裝置
- T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的測定掃描電鏡-能譜法
- T/NLIA 004-2021 增材制造鋁合金掃描電鏡原位拉伸 試驗方法
- T/SPSTS 030-2023 石墨烯材料 片徑尺寸測量 掃描電子顯微鏡法
- T/CSTM 00346-2021 鋼中夾雜物的自動分類和統(tǒng)計 掃描電鏡能譜法
- T/CNIA 0161-2023 變形鋁及鋁合金組織形貌檢驗方法 掃描電鏡法
- T/GAIA 017-2022 鋁及鋁合金表面涂層氟含量的測定 掃描電鏡能譜法
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語
- KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側(cè)向力顯微鏡法
- KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
- KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡 側(cè)向力顯微鏡方法
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－掃描電子顯微鏡－圖像放大率校準(zhǔn)指南
- KS D 2713-2021 NSOM（近場掃描光學(xué)顯微鏡）空間分辨率評價
- KS D 2714-2006 掃描探針顯微鏡.橫向剪切力的測量方法
GSO，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 圖像清晰度評價方法
- GSO ISO 21550:2013 攝影 電子照相掃描儀 可變范圍測量
- OS GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 評估圖像清晰度的方法
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
國家軍用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GJB 2666A-2018 掃描反射鈹鏡體規(guī)范
- GJB 2666-1996 掃描反射鈹鏡體規(guī)范
- GJB 737.11-1993 火工品藥劑試驗方法 粒度測定 掃描電鏡法
- GJB 8288-2014 超高速轉(zhuǎn)鏡式掃描攝影系統(tǒng)檢定規(guī)程
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
- JY/T 0582-2020 掃描探針顯微鏡分析方法通則
- JY/T 0586-2020 激光掃描共聚焦顯微鏡分析方法通則
KR-KS，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 16700-2023 微束分析掃描電子顯微鏡圖像放大率校準(zhǔn)指南
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準(zhǔn)指南
- BS ISO 21466:2019 微束分析 掃描電子顯微鏡 CDSEM評估關(guān)鍵尺寸的方法
- BS ISO 16700:2016 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準(zhǔn)圖像放大率的指南
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
上海市標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法
國家能源局，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
德國機(jī)械工程師協(xié)會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- VDI 3866 Blatt 5-2004 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電鏡法
江蘇省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- DB32/T 4546-2023 電鏡掃描硅藻圖像自動化檢驗技術(shù)規(guī)范
- DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微區(qū)覆蓋度測試 掃描電子顯微鏡法
廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評價方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-司法，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- SF/T 0139-2023 泥土檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- VDI 3866 BLATT 5-2015 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 Blatt 5-2003 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 27788-2020 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則
- GB/T 38783-2020 貴金屬復(fù)合材料覆層厚度的掃描電鏡測定方法
SE-SIS，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- SIS SS CECC 00013-1985 基本規(guī)范．半導(dǎo)體芯片的掃描電子顯微鏡觀察
- SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
RU-GOST R，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST R 8.594-2009 確保測量一致性的國家體系.掃描電子顯微鏡
- GOST R 8.636-2007 國家測量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)方法
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
- XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 - 掃描電子顯微鏡 - 評估圖像清晰度的方法
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 掃描電子顯微鏡 評價圖像清晰度的方法
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布
- NF T25-111-4:1991 碳纖維-織構(gòu)和結(jié)構(gòu)-第4部分：掃描電子顯微鏡斷口法
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988)
西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡方法
工業(yè)和信息化部，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- YS/T 1491-2021 鎳基高溫合金粉末球形率測定方法 掃描電鏡法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GA/T 1939-2021 法庭科學(xué) 電流斑檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1938-2021 法庭科學(xué) 金屬檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1937-2021 法庭科學(xué) 橡膠檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
(美國)軍事條例和規(guī)范，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- ARMY MIL-PRF-49177 B VALID NOTICE 1-2013 掃描隔行掃描，PL-1408/UA
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN ISO 9220:2001 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）
國家軍用標(biāo)準(zhǔn)-國防科工委，關(guān)于相+掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GJB 5891.6-2006 火工品藥劑試驗方法 第6部分：粒度測定 掃描電鏡法
