電鏡掃描怎么描述
本專題涉及電鏡掃描怎么描述的標準有125條。
國際標準分類中，電鏡掃描怎么描述涉及到光學設(shè)備、電子顯示器件、信息技術(shù)用語言、光學和光學測量、建筑材料、分析化學、物理學、化學、詞匯、教育、長度和角度測量、表面處理和鍍涂、有色金屬、光電子學、激光設(shè)備、空氣質(zhì)量、熱力學和溫度測量、犯罪行為防范、機械試驗、涂料和清漆、金屬材料試驗、紡織纖維。
在中國標準分類中，電鏡掃描怎么描述涉及到放大鏡與顯微鏡、電子光學與其他物理光學儀器、程序語言、電磁計量、、基礎(chǔ)標準與通用方法、電子元件綜合、檢驗專用設(shè)備、教學專用儀器、化學計量、技術(shù)管理、材料防護、教育、學位、學銜、石油地質(zhì)勘探、石油勘探、開發(fā)與集輸工程綜合、記錄儀器及光線示波器、光學設(shè)備、金屬化學性能試驗方法、電化學、熱化學、光學式分析儀器、犯罪鑒定技術(shù)、光學計量、油頁巖、金相檢驗方法、化學纖維綜合、金屬物理性能試驗方法、混凝土、集料、灰漿、砂漿。
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規(guī)程
- ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規(guī)程
- ASTM E766-98 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E766-98(2003) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標準指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關(guān)物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關(guān)物品的標準指南
- ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準的標準方法
- ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數(shù)的標準校正規(guī)范
- ASTM C1723-10 用掃描電子顯微鏡檢驗硬化混凝土的標準指南
- ASTM C1723-16(2022) 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標準指南
日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
美國電氣電子工程師學會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- IEEE 1450.6.1-2009 芯片上掃描壓縮的描述
- IEEE Std 1450.6.1-2009 描述片上掃描壓縮的IEEE標準
國際標準化組織，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
美國國家標準學會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- ANSI/IEEE 1450.6.1:2009 芯片組掃描壓縮比描述標準
國家計量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規(guī)范
- JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準規(guī)范
國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程
行業(yè)標準-機械，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術(shù)條件
- JB/T 7503-1994 金屬覆蓋層橫截面厚度.掃描電鏡測量方法
英國標準學會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準標準
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準指南
德國機械工程師協(xié)會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- VDI/VDE 5565 BLATT 1:2023 光學相干斷層掃描 (OCT) 過程描述
- VDI 3866 Blatt 5-2004 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電鏡法
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI VDE 2656 Blatt 1-2019 使用掃描探針顯微鏡測定幾何量
- VDI 3866 BLATT 5-2015 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 Blatt 5-2003 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
行業(yè)標準-商品檢驗，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學顯微鏡法
- SN/T 3009-2011 金屬表面海水腐蝕掃描電鏡鑒定方法
國家軍用標準-總裝備部，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- GJB 2666-1996 掃描反射鈹鏡體規(guī)范
- GJB 2666A-2018 掃描反射鈹鏡體規(guī)范
- GJB 737.11-1993 火工品藥劑試驗方法 粒度測定 掃描電鏡法
- GJB 8288-2014 超高速轉(zhuǎn)鏡式掃描攝影系統(tǒng)檢定規(guī)程
韓國科技標準局，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語
- KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側(cè)向力顯微鏡法
- KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
- KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡 側(cè)向力顯微鏡方法
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- KS D ISO 16700-2023 微束分析掃描電子顯微鏡圖像放大率校準指南
美國給水工程協(xié)會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評估膜表面污染模式
中國團體標準，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- T/SPSTS 032-2023 掃描電化學顯微鏡通用規(guī)范
- T/CSTM 00795-2022 材料實驗數(shù)據(jù) 掃描電鏡圖片要求
- T/COEMA 21O-2024 激光雷達用多面掃描轉(zhuǎn)鏡
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
- T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的測定掃描電鏡-能譜法
- T/SPSTS 030-2023 石墨烯材料 片徑尺寸測量 掃描電子顯微鏡法
- T/NLIA 004-2021 增材制造鋁合金掃描電鏡原位拉伸 試驗方法
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
巴林國家計量局，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
行業(yè)標準-教育，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
- JY/T 0582-2020 掃描探針顯微鏡分析方法通則
- JY/T 0586-2020 激光掃描共聚焦顯微鏡分析方法通則
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法
- GB/T 17722-1999 金屬蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 27788-2011 微束分析.掃描電鏡.圖像放大倍率校準導(dǎo)則
- GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
- GB/T 18295-2001 油氣儲層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法
- GB/T 30834-2022 鋼中非金屬夾雜物的評定和統(tǒng)計 掃描電鏡法
- GB/T 36422-2018 化學纖維 微觀形貌及直徑的測定 掃描電鏡法
- GB/T 30834-2014 鋼中非金屬夾雜物的評定和統(tǒng)計 掃描電鏡法
- GB/T 45325-2025 貴金屬鍵合絲熱影響區(qū)長度測定 掃描電鏡法
行業(yè)標準-石油，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
上海市標準，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法
行業(yè)標準-司法，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- SF/T 0139-2023 泥土檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
江蘇省標準，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- DB32/T 4546-2023 電鏡掃描硅藻圖像自動化檢驗技術(shù)規(guī)范
- DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微區(qū)覆蓋度測試 掃描電子顯微鏡法
廣東省標準，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評價方法
丹麥標準化協(xié)會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
意大利統(tǒng)一標準化組織，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- UNI EN ISO 9220:1998 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- UNI ISO 9220:1990 金屬覆層 覆層厚度測量 掃描電子顯微鏡方法
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- GB/T 27788-2020 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導(dǎo)則
SE-SIS，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
- SIS SS CECC 00013-1985 基本規(guī)范．半導(dǎo)體芯片的掃描電子顯微鏡觀察
法國標準化協(xié)會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
俄羅斯標準局，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- GOST R 8.594-2009 確保測量一致性的國家體系.掃描電子顯微鏡
德國標準化學會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法
歐洲標準化委員會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
美國電影與電視工程師協(xié)會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- SMPTE 2016-5-2009 用于活動格式描述、條形數(shù)據(jù)和全景掃描信息的 KLV 編碼
西班牙標準化協(xié)會，關(guān)于電鏡掃描怎么描述的標準
- UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡方法
