ZH
EN
KR
JP
ES
DE

и образцы сканирующего электронного микроскопа

и образцы сканирующего электронного микроскопа, Всего: 95 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к и образцы сканирующего электронного микроскопа, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Словари, Строительные материалы, Линейные и угловые измерения, Образование, Цветные металлы, Керамика, Качество воздуха, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Обработка поверхности и покрытие, Электронные устройства отображения.

國家能源局, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Petroleum, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
• SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
• SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

International Organization for Standardization (ISO), и образцы сканирующего электронного микроскопа

• ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
• ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
• ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
• ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
• ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), и образцы сканирующего электронного микроскопа

• JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
• JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
• JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
• JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
• JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
• JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
• JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Machinery, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
• JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

SCC, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
• 06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
• 13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии
• VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.
• AWWA ACE56156 Оценка характера загрязнения поверхности мембран с помощью планшетного сканера и сканирующего электронного микроскопа
• DANSK DS/ISO 9220:2022 Металлические покрытия – Измерение толщины покрытия – Метод сканирующего электронного микроскопа
• BS EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа

GSO, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
• GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• OS GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), и образцы сканирующего электронного микроскопа

• KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
• KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
• KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
• KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
• KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
• KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
• KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
• KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
• KS D 2714-2021 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
• KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
• KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
• KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
• KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
• KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
• KS D ISO 9220-2022 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа

KR-KS, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• KS D ISO 16700-2023 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

American Society for Testing and Materials (ASTM), и образцы сканирующего электронного микроскопа

• ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
• ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
• ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
• ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-04(2024) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

British Standards Institution (BSI), и образцы сканирующего электронного микроскопа

• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
• BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
• BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
• BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
• BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Education, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
• JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• VDI 3866 BLATT 5-2015 Лучшая иммунизация асбеста в технических продуктах - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
• VDI 3866 Blatt 5-2003 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Commodity Inspection, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.

Association Francaise de Normalisation, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
• XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
• XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Group Standards of the People's Republic of China, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• T/SPSTS 032-2023 Общие технические условия на сканирующую электрохимическую микроскопию
• T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ
• T/SPSTS 030-2023 Измерение размера листа графенового материала с помощью сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Judicatory, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• SF/T 0139-2023 Исследование почвы сканирующим электронным микроскопом/рентгеновской энергетической спектрометрией

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

SE-SIS, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

RU-GOST R, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы

Danish Standards Foundation, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

German Institute for Standardization, и образцы сканирующего электронного микроскопа

• DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.

European Committee for Standardization (CEN), и образцы сканирующего электронного микроскопа

• EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

Другие:   Образцы сканирующей электронной микроскопии, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, образцы СЭМ, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Сканирующий электронный микроскоп и полевой сканирующий электронный микроскоп, Сканирующий электронный микроскоп сем и, образцы сканирующего электронного микроскопа, и образцы сканирующего электронного микроскопа, образцы СЭМ, сканирующий электронный микроскоп и, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Сканирующий электронный микроскоп и сканирующий электронный микроскоп, Методы подготовки проб для сканирующей электронной микроскопии, Экологический сканирующий электронный микроскоп и сканирующий электронный микроскоп, Оптическая и сканирующая электронная микроскопия, Образец сканирующего электронного микроскопа.., Сканирующий электронный микроскоп и сканирующий электронный микроскоп для окружающей среды, Держатель образцов для сканирующего электронного микроскопа.