ZH
EN
KR
JP
ES
DEПодготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Всего: 96 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Керамика, Оптика и оптические измерения, Словари, Строительные материалы, Образование, Линейные и угловые измерения, Цветные металлы, Качество воздуха, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Электронные устройства отображения, Обработка поверхности и покрытие.
國(guó)家能源局, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Professional Standard - Petroleum, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
International Organization for Standardization (ISO), Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
- JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
- JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
Professional Standard - Machinery, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
SCC, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- 06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.
- 13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии
- AWWA ACE56156 Оценка характера загрязнения поверхности мембран с помощью планшетного сканера и сканирующего электронного микроскопа
- DANSK DS/ISO 9220:2022 Металлические покрытия – Измерение толщины покрытия – Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
GSO, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- OS GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
- KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
- KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
- KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
- KS D 2714-2021 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2022 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KR-KS, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 16700-2023 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
British Standards Institution (BSI), Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
Professional Standard - Education, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
American Society for Testing and Materials (ASTM), Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2024) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- VDI 3866 BLATT 5-2015 Лучшая иммунизация асбеста в технических продуктах - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
- VDI 3866 Blatt 5-2003 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
Association Francaise de Normalisation, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
Group Standards of the People's Republic of China, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- T/SPSTS 032-2023 Общие технические условия на сканирующую электрохимическую микроскопию
- T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ
- T/SPSTS 030-2023 Измерение размера листа графенового материала с помощью сканирующей электронной микроскопии
Professional Standard - Commodity Inspection, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
Professional Standard - Judicatory, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- SF/T 0139-2023 Исследование почвы сканирующим электронным микроскопом/рентгеновской энергетической спектрометрией
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок
German Institute for Standardization, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
SE-SIS, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.
Danish Standards Foundation, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
RU-GOST R, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
European Committee for Standardization (CEN), Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)