y muestras de microscopía electrónica de barrido.

y muestras de microscopía electrónica de barrido., Total: 95 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en y muestras de microscopía electrónica de barrido. son: Química analítica, Equipo óptico, óptica y medidas ópticas., Vocabularios, Medidas lineales y angulares., Materiales de construcción, Educación, Metales no ferrosos, Cerámica, Calidad del aire, Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Tratamiento superficial y revestimiento., Dispositivos de visualización electrónica..

國家能源局, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Professional Standard - Petroleum, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

International Organization for Standardization (ISO), y muestras de microscopía electrónica de barrido.

ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), y muestras de microscopía electrónica de barrido.

JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido

Professional Standard - Machinery, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

SCC, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
06/30128226 DC ISO 22493. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
13/30203227 DC BS ISO 13083. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Normas sobre la definición y calibración de la resolución espacial de la Microscopía de Resistencia a la Difusión de Barrido y la Microscopía de Capacitancia de Barrido
VDI 3866 BLATT 5-2017 Determinación del amianto en productos técnicos: método de microscopía electrónica de barrido
AWWA ACE56156 Evaluación de patrones de contaminación de la superficie de la membrana mediante un escáner de superficie plana y un microscopio electrónico de barrido
DANSK DS/ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos – Medición del espesor del recubrimiento – Método del microscopio electrónico de barrido
BS EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.

GSO, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

BH GSO ISO 22493:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
GSO ISO 22493:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
GSO ISO/TS 24597:2013 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica de barrido -- Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
GSO ISO 9220:2013 Recubrimientos metálicos -- Medición del espesor del recubrimiento -- Método del microscopio electrónico de barrido
OS GSO ISO/TS 24597:2013 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica de barrido -- Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), y muestras de microscopía electrónica de barrido.

KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS I 0051-2019 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
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KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2022 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido

KR-KS, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 16700-2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.

American Society for Testing and Materials (ASTM), y muestras de microscopía electrónica de barrido.

ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
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ASTM E986-04(2024) Práctica estándar para la caracterización del tama?o del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tama?o del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tama?o del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tama?o del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido

British Standards Institution (BSI), y muestras de microscopía electrónica de barrido.

18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Education, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3866 Blatt 5-2003 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Commodity Inspection, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.

Association Francaise de Normalisation, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.

Group Standards of the People's Republic of China, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

T/SPSTS 032-2023 Especificaciones generales para microscopía electroquímica de barrido.
T/QGCML 1940-2023 Dispositivo de prueba mecánica de alta temperatura in situ con microscopio electrónico de barrido
T/SPSTS 030-2023 Medición del tama?o de la hoja de material de grafeno mediante microscopía electrónica de barrido

Professional Standard - Judicatory, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

SF/T 0139-2023 Inspección de suelos mediante microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

SE-SIS, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

SIS SS-ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos. Mediciones del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

RU-GOST R, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido

Danish Standards Foundation, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

DS/EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido

German Institute for Standardization, y muestras de microscopía electrónica de barrido.

DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022

European Committee for Standardization (CEN), y muestras de microscopía electrónica de barrido.

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

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