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Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

Für die Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop gibt es insgesamt 102 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Wortschatz, Baumaterial, erziehen, Nichteisenmetalle, L?ngen- und Winkelmessungen, Keramik, Luftqualit?t, Kriminalpr?vention, Oberfl?chenbehandlung und Beschichtung, Thermodynamik und Temperaturmessung, Elektronische Anzeigeger?te.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
• GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erd?l- und Gaslagerst?tten mittels Rasterelektronenmikroskop
• GB/T 23414-2009 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Wortschatz

International Organization for Standardization (ISO), Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
• ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
• ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
• ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung
• JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung

Professional Standard - Petroleum, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben
• SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
• SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
• SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)
• JJF 1351-2012 Kalibrierungsspezifikation für Rastersondenmikroskope

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
• JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

Professional Standard - Machinery, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
• JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
• KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
• KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS I 0051-2024 Richtlinien für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS I 0051-2019 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS D 2714-2016(2021) Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
• KS D 2714-2021 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
• KS D 2714-2016 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
• KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

Kingdom of Bahrain Testing and Metrology Directorate, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• BH GSO ISO 22493:2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln

British Standards Institution (BSI), Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• BS ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
• 06/30128226 DC ISO 22493. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
• 13/30203227 DC BS ISO 13083. Chemische Oberfl?chenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Normen zur Definition und Kalibrierung der r?umlichen Aufl?sung der Raster-Spreading-Resistance-Mikroskopie und der Raster-Kapazit?tsmikroskopie
• BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
• BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• BS EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• BS ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz

GCC Standardization Organization, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• GSO ISO 22493:2015 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• GSO ISO 25498:2015 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
• GSO ISO/TS 24597:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
• GSO ISO 9220:2013 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

Professional Standard - Education, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
• JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
• ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
• ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
• ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E986-04(2024) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops

Association Francaise de Normalisation, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung.
• XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
• XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
• NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

Professional Standard - Judicatory, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiespektrometrie

Group Standards of the People's Republic of China, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
• T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfger?t
• T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgr??e von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Commodity Inspection, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie

Swedish Institute for Standards, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• SS-ISO 9220:1989 Metallische überzüge - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

American Water Works Association (AWWA), Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• AWWA ACE56156 Auswertung von Verschmutzungsmustern auf Membranoberfl?chen mittels Flachbettscanner und Rasterelektronenmikroskop

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikrofl?chenbedeckung von Graphenfilmen

Ente Nazionale Italiano di Unificazione, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• UNI EN ISO 9220:1998 Metallische überzüge - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• UNI ISO 9220:1990 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode.

Association of German Mechanical Engineers, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
• VDI 3866 Blatt 5-2003 Determination of asbestos in technical products - Scanning electron microscopy method
• VDI 3866 BLATT 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode

Danish Standards Foundation, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• DANSK DS/ISO 9220:2022 Metallische Schichten – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

The Directorate General of Specifications and Metrology (DGSM) , Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• OS GSO ISO/TS 24597:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe

Gosstandart of Russia, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope

SE-SIS, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

European Committee for Standardization (CEN), Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

German Institute for Standardization, Probenvorbereitung im Rasterelektronenmikroskop

• DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022

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