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So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

Für die So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor gibt es insgesamt 97 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Wortschatz, Baumaterial, erziehen, Nichteisenmetalle, L?ngen- und Winkelmessungen, Keramik, Luftqualit?t, Kriminalpr?vention, Thermodynamik und Temperaturmessung, Oberfl?chenbehandlung und Beschichtung, Elektronische Anzeigeger?te.

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben

International Organization for Standardization (ISO), So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
• ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
• ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
• ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung
• JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung

國家能源局, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

Professional Standard - Petroleum, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
• SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
• SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)
• JJF 1351-2012 Kalibrierungsspezifikation für Rastersondenmikroskope

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
• JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

Professional Standard - Machinery, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
• JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops

SCC, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• BS ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
• 06/30128226 DC ISO 22493. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
• 13/30203227 DC BS ISO 13083. Chemische Oberfl?chenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Normen zur Definition und Kalibrierung der r?umlichen Aufl?sung der Raster-Spreading-Resistance-Mikroskopie und der Raster-Kapazit?tsmikroskopie
• AWWA ACE56156 Auswertung von Verschmutzungsmustern auf Membranoberfl?chen mittels Flachbettscanner und Rasterelektronenmikroskop
• VDI 3866 BLATT 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
• DANSK DS/ISO 9220:2022 Metallische Schichten – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• BS EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode

GSO, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• BH GSO ISO 22493:2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• GSO ISO 22493:2015 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• GSO ISO 25498:2015 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
• GSO ISO/TS 24597:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
• GSO ISO 9220:2013 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• OS GSO ISO/TS 24597:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
• KS I 0051-2019 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS D 2714-2016(2021) Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
• KS D 2714-2016 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
• KS D 2714-2021 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
• KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

KR-KS, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
• KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung

British Standards Institution (BSI), So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
• BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
• BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• BS ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz

Professional Standard - Education, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
• JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erd?l- und Gaslagerst?tten mittels Rasterelektronenmikroskop
• GB/T 23414-2009 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Wortschatz

American Society for Testing and Materials (ASTM), So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
• ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
• ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
• ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E986-04(2024) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops

Association Francaise de Normalisation, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung.
• XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
• XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
• NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

Group Standards of the People's Republic of China, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
• T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfger?t
• T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgr??e von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Commodity Inspection, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie

Professional Standard - Judicatory, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiespektrometrie

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikrofl?chenbedeckung von Graphenfilmen

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
• VDI 3866 Blatt 5-2003 Determination of asbestos in technical products - Scanning electron microscopy method

SE-SIS, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

Danish Standards Foundation, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

RU-GOST R, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope

German Institute for Standardization, So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022

European Committee for Standardization (CEN), So bereiten Sie Proben für das Rasterelektronenmikroskop vor

• EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

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