ASTM E2382-04
掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的指南

Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM E2382-04

發(fā)布

2004年

總頁(yè)數(shù)

20頁(yè)

發(fā)布單位

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E2382-04(2012)

當(dāng)前最新

ASTM E2382-04(2020)

 

 

適用范圍

1.1 所有顯微鏡都會(huì)受到偽影的影響。本文件的目的是描述掃描隧道顯微鏡 (STM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 中常見(jiàn)的與探針運(yùn)動(dòng)以及針尖和表面相互作用的幾何考慮有關(guān)的偽影，提供示例的文獻(xiàn)參考，其中可能的話，對(duì)文物的來(lái)源提供解釋。由于掃描探針顯微鏡領(lǐng)域是一個(gè)新興領(lǐng)域，因此本文件并不意味著全面，而是為顯微鏡工作者提供指導(dǎo)，幫助他們了解可能遇到的陷阱。識(shí)別偽影的能力應(yīng)有助于可靠地評(píng)估儀器操作和報(bào)告數(shù)據(jù)。
1.2 此處將定義一組有限的術(shù)語(yǔ)。與 STM 和 AFM 儀器的描述、操作和校準(zhǔn)相關(guān)的術(shù)語(yǔ)的完整描述超出了本文檔的范圍。

專題

ASTM E2382-04相似標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E2382-04 中可能用到的儀器設(shè)備

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