x熒光測試方法

本專題涉及x熒光測試方法的標準有5條。

國際標準分類中，x熒光測試方法涉及到半導體材料、金屬材料試驗。

在中國標準分類中，x熒光測試方法涉及到半金屬與半導體材料綜合、半金屬及半導體材料分析方法。

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x熒光測試方法的標準

• GB/T 24578-2009 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法
• GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法

美國機動車工程師協(xié)會，關(guān)于x熒光測試方法的標準

• SAE AS6171/3-2016 通過 X 射線熒光測試方法檢測可疑/假冒 EEE 部件的技術(shù)
• SAE AS6171/3-2022 通過 X 射線熒光測試方法檢測可疑/假冒 EEE 部件的技術(shù)
• SAE AS6171/3 通過X射線熒光測試方法檢測懷疑/假冒Eee零件檢測技術(shù)

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可能用到的儀器設(shè)備