SAE AS6171/3-2022
通過(guò) X 射線熒光測(cè)試方法檢測(cè)可疑/假冒 EEE 部件的技術(shù)

Techniques for Suspect/Counterfeit EEE Parts Detection by X-Ray Fluorescence Test Methods

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

SAE AS6171/3-2022

發(fā)布

2022年

發(fā)布單位

美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)

當(dāng)前最新

SAE AS6171/3-2022

 

 

適用范圍

用于偽造品檢測(cè)的 XRF 技術(shù)適用于 AS6171 一般要求中列出的電氣、電子和機(jī)電 (EEE) 零件。一般而言，檢測(cè)技術(shù)適用于在組裝到電路板上之前的零件或從電路板上移除的零件。適用范圍涵蓋大量有源、無(wú)源和機(jī)電部件。如果合同中引用了 AS6171/3，則基礎(chǔ)文件 AS6171 一般要求也應(yīng)適用。

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