JIS R 1633:1998
掃描電子顯微鏡觀察用精細陶瓷和陶瓷粉末的樣品制備方法

Sample preparation method of fine ceramics and fine ceramic powders for scanning electron microscope observation

標準號

JIS R 1633:1998

發(fā)布

1998年

總頁數(shù)

12頁

發(fā)布單位

日本工業(yè)標準調(diào)查會

當(dāng)前最新

JIS R 1633:1998

 

 

適用范圍

本標準適用于非干燥狀態(tài)的樣品。使用不具有能夠觀察揮發(fā)性樣品或非導(dǎo)電樣品的特殊功能或結(jié)構(gòu)、并且可以在樣品室壓力為10Pa以下的情況下使用的掃描電子顯微鏡（以下簡稱SEM），規(guī)定樣品制備精細陶瓷塊體材料和粉末材料的SEM觀察方法。

專題

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