半導(dǎo)體x射線

本專題涉及半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)有15條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，半導(dǎo)體x射線涉及到核能工程、輻射測量。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，半導(dǎo)體x射線涉及到核儀器與核探測器綜合、通用核儀器、半導(dǎo)體分立器件綜合、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置。

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 11685-2003 半導(dǎo)體X射線探測器系統(tǒng)和半導(dǎo)體X射線能譜儀的測量方法

CZ-CSN，關(guān)于半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)

• CSN 35 6575 Z1-1997 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序

GSO，關(guān)于半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)

• GSO IEC 60759:2015 半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序
• OS GSO IEC 60759:2015 半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)

• KS C IEC 60759:2009 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)試驗程序
• KS C IEC 60759-2019 半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序
• KS C IEC 60759-2009(2019) 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序

美國電氣電子工程師學(xué)會，關(guān)于半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)

• IEEE 759-1984 半導(dǎo)體X射線能譜分析器的試驗程序
• ANSI/IEEE Std 759-1984 半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的 IEEE 標(biāo)準(zhǔn)測試程序
• ANSI/IEEE Std 759-1984(R1990) 半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的 IEEE 標(biāo)準(zhǔn)測試程序

國際電工委員會，關(guān)于半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)

• IEC 60759:1983 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)試驗程序
• IEC 60759:1983/AMD1:1991 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)試驗程序 修改1

意大利電工委員會，關(guān)于半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)

• CEI 45-35:1997 半導(dǎo)體X射線光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化測試方法

IN-BIS，關(guān)于半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)

• IS 12737-1988 半導(dǎo)體 X 射線能量光譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序

SE-SIS，關(guān)于半導(dǎo)體x射線的標(biāo)準(zhǔn)

• SIS SS IEC 759:1986 核檢測儀表．半導(dǎo)體X射線能譜儀檢測程序

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可能用到的儀器設(shè)備