GJB 6777-2009
軍用電子元器件252Cf源單粒子效應(yīng)實驗方法
Testing method of single event effects in Cf radiation source for military electronic devices
- 標準號
- GJB 6777-2009
- 發(fā)布
- 2009年
- 總頁數(shù)
- 7頁
- 發(fā)布單位
- 國家軍用標準-總裝備部
- 當前最新
- GJB 6777-2009
- 引用標準
- GB 18871-2002 GJB 2172-1996 GJB 3756-1999
- 適用范圍
- 本標準規(guī)定了軍用電子元器件<左上標252>Cf源上進行實驗室單粒子效應(yīng)實驗的方法和基本要求。 本標準適用于軍用電子元器件<左上標252>Cf源單粒子效應(yīng)試驗。商用電子元器件亦可參照執(zhí)行。