DIN EN ISO 9220:2021
金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method (ISO/DIS 9220:2021); German and English version prEN ISO 9220:2021
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- DIN EN ISO 9220:2021
- 發(fā)布
- 2021年
- 總頁數(shù)
- 36頁
- 發(fā)布單位
- 德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN ISO 9220:2021-04
- 當(dāng)前最新
- DIN EN ISO 9220:2022-05
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 1463 ISO 2064
- 本體
- 厚度測量 掃描電子顯微鏡 金屬涂層
- 適用范圍
- 本文件規(guī)定了通過掃描電子顯微鏡（SEM）檢查橫截面來測量金屬涂層（以下也包括其他無機(jī)涂層）局部厚度的破壞性方法。該方法可用于厚度達(dá)幾毫米的涂層，但對于如此厚的涂層，通常更實用的是使用光學(xué)顯微鏡（ISO 1463）（如適用）。厚度下限取決于所達(dá)到的測量不確定度（見第10章）。
| 術(shù)語 | 描述 |
|---|---|
| 局部厚度 local thickness | 在參考區(qū)域內(nèi)進(jìn)行指定數(shù)量厚度測量的平均值。 |
DIN EN ISO 9220:2021 中提到的儀器設(shè)備
| 工具 用于校準(zhǔn)SEM軟件長度測量功能的工具 | 用于校準(zhǔn)SEM軟件長度測量功能的工具，如臺微米計、格柵、硅片上的金屬凸塊或球形聚合物顆粒。 |
| 掃描電子顯微鏡 SEM | 用于檢查涂層橫截面的主要儀器。 |
DIN EN ISO 9220:2021相似標(biāo)準(zhǔn)
DIN EN ISO 9220:2021-04 草案 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法 （ISO 9220:1988）
AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法 (ISO 9220:1988)
DIN EN ISO 9220:1995-01 金屬涂層 用掃描電子顯微鏡法測量涂層厚度（ISO 9220:1988）
SS-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:2022）